Scheda macchina per test a 58 strati
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Scheda macchina per test a 58 strati

Scheda macchina per test a 58 strati

Questo PCB di precisione a 58-strato ultra-alto-strato è appositamente progettato per apparecchiature di test di fascia alta-, con uno spessore della scheda finita di 5,5 mm. Adottando il substrato premium Panasonic M6G ad alta velocità-, è un circuito stampato per processi estremi-di fascia alta-del settore. Rompendo i tradizionali colli di bottiglia della produzione, raggiunge proporzioni ultra-scheda alta-per-foro di 28:1 e capacità di circuito ultra-sottile di 0,07 mm/0,08 mm. La struttura impilata ultra-multi-strato supporta un layout massiccio e indipendente dei canali del segnale, garantendo una conduzione affidabile dei fori profondi,-instradamento di linee sottili ultra-dense-ed eccellente stabilità dimensionale. Soddisfa pienamente i severi requisiti di test dei chip ad alta-precisione, acquisizione di segnali deboli e test sincroni multicanale, fungendo da scheda madre portante principale per sofisticate apparecchiature di test.

Descrizione

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Specifiche principali

  • Strati: 58 strati
  • Spessore del pannello finito: 5,5 mm
  • Proporzioni tavola-a-foro: Rapporto d'aspetto ultra- 28:1 ultra elevato, che realizza galvanica e conduzione affidabili per microfori profondi su tavole spesse
  • Larghezza/spaziatura della linea: circuito ultrasottile da 0,07 mm/0,08 mm,-che migliora notevolmente la densità del cablaggio
  • Materiale: substrato Panasonic M6G ad alta-velocità con eccellente resistenza al calore, bassa espansione termica e prestazioni di impedenza stabili

 

Vantaggi fondamentali

  • 58-strati ultra-stack elevato-up, forte integrazione multicanale: lo stack ad alta-densità-a 58-strati distribuisce in modo ragionevole gli strati di segnale, di potenza e di terra, supportando centinaia di canali di segnale di test indipendenti senza giunzione multi-scheda, il che semplifica la struttura interna delle apparecchiature di test. La tecnologia professionale di multi-laminazione controlla efficacemente la deformazione e la deformazione della scheda, garantendo un'elevata precisione di assemblaggio e parametri elettrici stabili durante test continui a lungo termine.
  • Proporzioni estreme 28:1, zero-difetti nella conduzione dei-fori profondi: Mirando alle difficoltà di lavorazione dei microfori su pannelli spessi 5,5 mm, adotta la perforazione di fori profondi-di precisione e una tecnologia di galvanica di rame spessa e uniforme. Le pareti del foro presentano una placcatura completa senza vuoti o crepe, garantendo un'elevata coerenza di conduzione ed eliminando gli errori dei dati di test causati da uno scarso contatto, in modo da garantire risultati di rilevamento accurati e affidabili.
  • Circuito ultra-sottile da 0,07 mm per cablaggio con microchip denso: La larghezza della linea ultrasottile-di 0,07 mm e l'interlinea di 0,08 mm massimizzano la capacità di cablaggio per unità di area. È perfettamente adatto per la disposizione densa di chip micro BGA e moduli di test per sonde ad alta-densità, caratterizzato da una bassa perdita di trasmissione del segnale debole e da una forte capacità anti-interferenza per scenari di raccolta di microsegnali ad alta-precisione.
  • Substrato Panasonic M6G ad alta stabilità-per operazioni a lungo-termine: Il substrato industriale ad alta velocità-Panasonic M6G possiede un'elevata Tg, una bassa espansione termica, un'eccezionale resistenza all'umidità e agli shock termici. Evita la delaminazione e la formazione di bolle dopo molteplici cicli di laminazione ad alta-temperatura. Con un'impedenza costante e una fluttuazione dimensionale ed elettrica trascurabile in condizioni di cicli di temperatura, è altamente applicabile per -alimentazione ripetuta a lungo termine-su test di apparecchiature di test di precisione.

 

Campi di applicazione

Apparecchiature per test con sonde per chip, apparecchiature per il rilevamento automatico di semiconduttori, strumenti per test di segnali ad alta-precisione, schede madri per test di precisione di controllo industriale e sistemi di controllo dei test multi-canale da laboratorio.

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